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개발 제품 소개

Image Tester Machine

by ictlab 2009. 10. 30.

※ 아래 내용은 제어용 소프트웨어 및  머신 비전 시스템을 개발 납품한 것입니다. 



JEDEC에 담겨진 Package화 된 Unit 을 Test 하여 결과에 대한 Bin Code 별로 분리 하는 장비의 헨들러 제어 프로그램 개발  

개발 기간 : 2006년 3월 ~ 2006년 5월 ( Single 4 Head  / 4 PARA)
개발 기간 : 2007년 8월 ~ 2007년 9월 ( Dual 6 Head    / 6 PARA )

MOTION / IO : 24 Axis , 196 EA

특이사항
1. 동적인 Tray Bin Code Setting 기능
2. Lot 단위 Test 결과를 DataBase 에 저장하는 Product DB 구현
3. 공용 작업 구간으로 인한 3중 헤드 충돌방지 구현
4. X-Machine Libary 기반의 XEvent를 이용한 충돌 방지 및 동시 작업 구현


* 작업 화면 UI
   - 실시간 Output Bin Code Display 및 Count
   - 사용 Tray 설정 Option 처리


* Bin Code Setting UI
  - 동적인 Bin Code 추가 ( Item : Color / Good/ Reject / Position ) 
 



* 작업 위치 임의 설정 UI
  - 작업 중 임의의 Position 에 Device 를 Test  할 수 있도록 하는 기능 구현




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